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IPFA 2009IEEE國際半導(dǎo)體失效分析與可靠性大會
日期：2025-12-20 12:01
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摘要：
IPFA 2009IEEE國際半導(dǎo)體失效分析與可靠性大會
IPFA 2009IEEE國際半導(dǎo)體失效分析與可靠性邀請函在科技日益更新的當(dāng)今社會，產(chǎn)品的失效分析和可靠性日漸被關(guān)注，產(chǎn)品出現(xiàn)可靠性與質(zhì)量問題后要進(jìn)行專業(yè)的失效分析才能幫助產(chǎn)品有更好的品質(zhì)提升，因此涌現(xiàn)出對失效分析與可靠性高水平技術(shù)人才的大量需求。
IPFA是半導(dǎo)體領(lǐng)域失效分析與可靠性的國際**會議。為培養(yǎng)失效分析與可靠性技術(shù)人才，滿足國內(nèi)外半導(dǎo)體方面專業(yè)人員技術(shù)提高的愿望，建立國際相關(guān)行業(yè)信息與技術(shù)交流平臺，解決相關(guān)企業(yè)遇到失效分析與可靠性問題時的疑點(diǎn)和盲區(qū)、打破理論與實際脫鉤的窘境、達(dá)到失效現(xiàn)象與失效原因直接掛鉤、提高產(chǎn)品可靠性的效果，我們特決定在蘇州舉辦此次面向國際的IEEE國際半導(dǎo)體失效分析與可靠性培訓(xùn)。
本次培訓(xùn)特別邀請15位來自中、美、歐洲、新加坡、日本及亞太其他各國及地區(qū)專家作培訓(xùn)講座與技術(shù)交流，具體事宜通知如下：
時間：2009年7月6日-10日蘇州獨(dú)墅湖高教區(qū)
參加對象：失效分析工程師、可靠性工程師、研發(fā)與工程技術(shù)人員、質(zhì)量工程師、工藝工程師、制造工程師、設(shè)計工程師、供應(yīng)商管理工程師、研發(fā)/工程/采購/質(zhì)量經(jīng)理、研究員、相關(guān)專業(yè)教授、博士生、研究生等。
承辦執(zhí)行單位：華碧檢測（FA LAB）
承辦執(zhí)行**協(xié)助單位：北京懷遠(yuǎn)文化傳媒有限公司
培訓(xùn)證書：IEEE IPFA2009技術(shù)委員會培訓(xùn)證書/中國電子電器可靠性工程協(xié)會培訓(xùn)證書
注：IPFA2009介紹
第16屆IEEE國際集成電路物理與失效分析會議（IPFA2009）由IEEE南京分會主辦，IEEEReliability/CPMT/ED新加坡分會協(xié)辦、由IEEE 電子器件協(xié)會與IEEE可靠性協(xié)會提供技術(shù)支持。IPFA2009是在中國舉辦的有關(guān)集成電路與器件方面規(guī)模*大、影響*大的國際會議。會議將為期五天，包括兩天的技術(shù)培訓(xùn)講座、三天的論文發(fā)表與研討技術(shù)交流，同時并行三天的設(shè)備展覽。
注:詳細(xì)內(nèi)容和報名表請郵件或電話索取資料.
如果您需要咨詢，請聯(lián)系IPFA 2009組委會秘書處，郵箱：hywh@ceeacea.org.cn 或者致電010-67642668，010-52259806. 歡迎登陸網(wǎng)址：http://www.ceeacea.org.cn 以寄信日期，發(fā)送郵件或傳真日期為準(zhǔn)。
